Aktualności i przegląd rynku

Analogowy i cyfrowy pomiar grubości powłoki

Konwencjonalne analogowe mierniki grubości powłoki przesyłają sygnały pomiarowe przez kabel do elektronicznego miernika grubości, w którym ma miejsce skomplikowane i podatne na zakłócenia analogowe przetwarzanie danych. Takie urządzenia elektroniczne mogą zawierać do 8 analogowych modułów, czasem są to drogie komponenty precyzyjne, takie jak wzmacniacze stabilności temperatury, kondensatory oraz regulatory napięcia. Regulatory napięcia zaprojektowane dla gamy napięć zwykle zajmują dużo miejsca i wymagają skomplikowanych układów elektrycznych. Podczas procesu produkcji takiego miernika wszystkie jego komponenty muszą być poddane ścisłym testom, termicznemu „starzeniu” oraz dbałej procedurze selekcji. Cyfrowe czujniki służące do pomiaru grubości powłok w oparciu o zasadę indukcji magnetycznej lub prądów wirowych łączą elementy kompletnego tworzenia sygnału, pomiaru i przetworzenia jednostki wewnątrz czujnika. Czujnik jest w stanie wytworzyć wszystkie konieczne sygnały kontrolne oraz dokonać edycji i cyfrowego przetworzenia powracających sygnałów pomiarowych. Tylko całkowicie przetworzone cyfrowe wartości grubości powłoki są przesyłane do miernika w celu uzyskania podglądu na wyświetlaczu, oceny statystycznej i przechowywania danych. Miernik nie jest już stosowany do przetwarzania pojedynczych wartości grubości powłoki, po prostu zbiera dane i zarządza nimi, wyświetla je oraz eksportuje.

Reklama

Technologia ta została rozwinięta przez firmę ElektroPhysik jest firmowana jako „SIDSP®” – cyfrowe przetwarzanie sygnału zintegrowane z czujnikiem. Czujniki SIDSP® - wymagają tylko dwóch prostych analogowych modułów, które można implementować w sposób kompaktowy: wzmacniacz sterujący do kontrolowania głowicy czujnika oraz wzmacniacz mierniczy, pozwalający wzmocnić sygnał pomiarowy przesyłany przez głowicę mierzącą. Jedno pojedyncze napięcie operacyjne jest wystarczające. Konwertery zamieniające jednostki analogowe na cyfrowe, osadzone w zaawansowanym mikrokomputerze natychmiast tworzą i przetwarzają naprzemienne sygnały napięcia wymagane do dokonania pomiaru. Cały pomiar jest przetwarzany w punkcie pomiaru, nie w mierniku macierzystym. Wszystkie inne analogowe moduły, jakie są wymagane w konwencjonalnych miernikach grubości powłok stają się zbędne i są po prostu zamienione na algorytmy cyfrowego przetwarzania sygnału.