Czy połyskomierze zapewniają dokładne wyniki? Część II
W rzeczywistości wiele certyfikowanych wzorców kalibracyjnych połysku jest mierzonych przy pomocy urządzeń posiadających własne wzorce kalibracyjne o określonej dokładności. Można by przyjąć, że skoro wzorce uznawane za wzorce pierwotne (NIST, BAM) charakteryzują się dokładnością na poziomie ok. +-1,0 GU przy 100 GU, to zgodnie z zasadami metrologii dokładność przyrządu sprawdzającego powinna być o rząd wielkości lepsza niż dokładność przyrządu sprawdzanego. Można by również przyjąć, że dokładność urządzeń wywodzących swoją spójność od wzorców uważanych za pierwotne powinna być na poziomie ?10 GU przy 100 GU. Nawet jeśli założyć znacznie większą dokładność "ścieżki" certyfikacji poszczególnych wzorców pośrednich, to i tak wydaje się, że dokładność urządzeń końcowych nie będzie większa niż kilka jednostek GU. Proces taki przedstawia rys. 1.
Rys. 1. Proces spójności pomiarowej wzorców połysku.
Metody pomiaru i ich ograniczenia
W związku z powyższym wydaje się, że aby jednoznacznie rozwiązać problem dokładności w procesie pomiaru połysku, należałoby przyjąć jeden wspólnie obowiązujący wzorzec połysku (np. oparty na kwarcu) i zdefiniowany więcej niż dwoma parametrami.
Ponadto, należałoby dla przyrządów przyjąć normatywne wartości powtarzalności i odtwarzalności zapewniające uzyskiwanie akceptowalnych różnic w wynikach pomiarów dokonanych na tej samej próbce przy użyciu różnych urządzeń. Najprawdopodobniej zostanie to zdefiniowane w nowej wersji normy ISO 2813, a dyskutowane propozycje dotyczą następujących poziomów:
Przedstawione aspekty wyraźnie pokazują, że w obecnej sytuacji mogą występować znaczne trudności w spójnym pomiarze połysku wykonywanym różnymi przyrządami. Często dochodzi bowiem do sytuacji, w których zleceniodawca i wykonawca uzyskują inną wartość połysku danej próbki i spierają się o to, czy jest ona zgodna z pierwotnymi ustaleniami. Istota problemu zawiera się natomiast w tym, że mając tę samą próbkę mierzą ją innymi przyrządami i uzyskują odmienne wyniki. Uniknięcie takich sytuacji byłoby możliwe jedynie wówczas, gdyby wartość połysku była mierzona w powiązaniu z konkretnym urządzeniem lub wzorcem kalibracyjnym. W związku z tym najlepszym rozwiązaniem wydaje się być dokonywanie pomiaru połysku tym samym urządzeniem przez odbiorcę i wykonawcę produktów lub posługiwanie się tym samym wzorcem przy kalibracji posiadanych przyrządów. Ponieważ jednak takie wymagania mogą być trudne do zrealizowania, a często nawet niemożliwe, wydaje się, że wspólne określenie przez wykonawcę i odbiorcę wartości oczekiwanych (np. 80 GU połyskomierzem odbiorcy = 85 GU połyskomierzem wykonawcy) pozwoliłoby na wyeliminowanie niejasności. Trudne do zinterpretowania wyniki pojawiają się w sytuacjach, w których podczas pomiaru jednej powłoki, przyrządy odbiorcy i wykonawcy wskazują odmienne dane przy zachowaniu powtarzalności i odtwarzalności przewidzianej dla każdego z tych urządzeń. Podejście oferuje każdej ze stron uzasadnione przekonanie, że uzyskana wartość połysku jest zgodna z zawartymi ustaleniami. Co więcej, zalecane jest stosowanie połyskomierzy, w których można indywidualnie ustawiać wartości kalibracyjne. W takim przypadku dowolna próbka może być wzorcem kalibracyjnym dla kilku urządzeń i ich pomiary powinny być całkowicie spójne, uzależnione jedynie od powtarzalności i odtwarzalności urządzenia.
Komentarze (0)