Nowy przyrząd mierniczy do powłok
Uzyskanie wysokiej wydajności energetycznej oraz wysokiej jakości elewacji budynków to cel przedsiębiorstwa Schüco International. W związku z tym budynki są traktowane jako całość i rozwiązania systemowe opracowywane są dla okien, drzwi, fasad oraz modułów solarnych. Podstawą w zapewnieniu jakości jest bezbłędny pomiar barwy i połysku, jak np. w przypadku systemów okiennych z tworzywa sztucznego.
Fot.1: Pomiar odbicia kierunkowego (połysk).
Wiarygodne wyniki pomiaru barwy i połysku
Czasy wyłącznie wizualnego i tym samym subiektywnego badania to przeszłość. Na takie wyniki miała bowiem wpływ zawsze indywidualna ocena oraz osobiste doświadczenie badającego. Do tego dochodziły zmienne warunki oświetleniowe oraz warunki otoczenia, jak również niewystarczająca zdolność człowieka do obiektywnego komunikowania i dokumentowania wartości barwy i połysku.
Fot. 2: Nowo zaprojektowany przyrząd mierniczy do jednoczesnego pomiaru barwy i połysku.
Pomiar połysku definiowany zgodnie z normą
Połysk (fot. 1) to wrażenie wizualne powstałe podczas obserwacji powierzchni. Zmienia się ono w zależności od odbicia powierzchniowego. Na równych, całkowicie gładkich, wypolerowanych powierzchniach odbicie strumienia światła jest kierunkowe - odbite obrazy są wyraźnie rozpoznawalne. Natomiast jakość odbicia na szorstkich powierzchniach jest obniżona: odbity obiekt nie jest już wyraźny, tylko zamazany. Spektrofotometr firmy Byk-Gardner (typ Spectro-guide, fot. 2) dokonuje pomiaru połysku pod kątem 60° przy jednoczesnym pomiarze barwy, tzn. dokładnie w tym samym miejscu. Dzięki temu wykonując jeden pomiar możliwe jest ustalenie, czy kolor i połysk są zgodne z normą.
Komentarze (0)